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2026-09-04 -
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StellarNetThin film Metrology薄膜测量系统是现代光学镀膜、半导体器件、显示器件、光伏材料以及高性能功能化表面研发与生产环节的重要手段。对膜层厚度、光学特性以及镀膜均匀性开展精准表征，有助于保障产品性能、工艺稳定性以及生产良率。
18016316889
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157产品描述
StellarNet StellarElite显示测量系统具备宽光谱范围与深度编码技术，在显示测量领域拥有顶尖性能。系统完成辐射亮度校准，搭载低暗电流（LDC）技术，实现较强微弱光检测能力。非常适合背光显示屏的低亮度检测，也可用于天文、暗天光检测场景！
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152产品描述
StellarNet Raman-HR-TEC-532拉曼光谱仪搭载针对 532nm 波段优化的增强型 CCD 阵列探测器，搭配高精度探测透镜模组，长时间曝光下仍具备超高检测灵敏度。
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2026-08-28浏览次数
142产品描述
StellarNet 激光测量系统基础款包括：BLUE‑Wave 光谱仪可搭配 F600 光纤与 IS6 积分球，经校准后实现 W/nm（瓦特 / 纳米）激光光谱辐射通量测量，也可根据需求搭配其它光谱仪和配件。
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158产品描述
StellarNet 反射透射光谱测试系统功能优异的光学测量技术，可用于表征薄膜、涂层、半导体材料及工程表面。通过分析光在样品表面的反射行为或是穿过样品的透射行为，科研人员与生产厂商能够在不接触、不损伤样品的前提下，评估薄膜厚度、光学参数、涂层性能以及材料各项特性。