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更新时间：2026-08-28
厂商性质：代理商
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| 品牌 | StellarNet | 价格区间 | 5万-10万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,能源,电子/电池,综合 |
StellarNet 激光测量系统介绍：
可测量并跟踪激光频率与质心波长，光谱分辨率最高可达 0.05nm
激光分析系统组成：微型光谱仪、光纤线缆（或直接对接接口）、集光附件 / 积分球，以及可溯源至 NIST 的强度校准
搭配积分球，系统可同时完成以 mW（毫瓦）为单位的绝对光强校准测量
内置自动寻峰算法与间歇式数据采集功能，监测激光波长漂移
光谱仪硬件配置可选，测量波段覆盖 190‑2300nm
StellarNet 微型光谱仪为光纤耦合式仪器，拥有丰富机型可选，支持 200‑1150nm 波段范围内的激光测量。
HR 高分辨率光谱仪，在使用相同光栅的条件下，分辨率为标准型号的 2 倍；同时波长测量范围会同等比例缩减。根据所选机型波段、探测器以及狭缝尺寸，可实现优于 0.1nm的光谱分辨率。
在光纤通信领域，波分复用（WDM）技术会用到近红外高分辨率光谱仪。波分复用的原理是：在单根光纤内传输多路不同波长的激光，不同波长（光色）的激光分别承载独立信号。常规 WDM 系统的通信信道工作在石英光纤的 C 波段，中心约 1550 nm。StellarNet 采用可调谐激光源对这套高分辨率设备完成校准。推荐选用 NIR3‑HR InGaAs 1024，测量波段覆盖 1500‑1640 nm，半高全宽（FWHM）可达 0.7 nm。
StellarNet 激光测量系统组成部分：
StellarNet 光谱仪、光纤线缆、接收器件（余弦接收器或积分球），辐照度校准为可选配置。
高分辨率光谱仪型号参数：
| 光谱仪型号 | 波长范围 (nm) | 光栅 (g /mm) | 光栅覆盖区间 (nm) | 色散 (nm / 像素) | 25μm 狭缝分辨率 (nm) | 14μm 狭缝分辨率 (nm) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| HR‑UV3 | 200‑300 | 2400 | 100 | 0.048 | 0.21 | 0.14 |
| HR‑UV3b | 300‑400 | 2400 | 100 | 0.048 | 0.21 | 0.14 |
| HR‑UV4 | 200‑340 | 1800 | 140 | 0.068 | 0.30 | 0.20 |
| HR‑VIS | 350‑750 | 600 | 400 | 0.195 | 1.20 | 0.80 |
| HR‑NIR | 500‑900 | 600 | 400 | 0.195 | 1.20 | 0.80 |
| HR‑NIR2 | 900‑1075 | 1200 | 175 | 0.085 | 0.80 | 0.40 |
| HR‑NIR3 | 750‑850 | 1800 | 100 | 0.049 | 0.30 | 0.20 |
| HR‑NIR4 | 500‑580 | 2400 | 800 | 0.039 | 0.12 | 0.08 |
