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产品型号：
更新时间：2026-08-28
厂商性质：代理商
访问量：8
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产品分类
| 品牌 | StellarNet | 价格区间 | 20万-30万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,化工,电子/电池,综合,半导体 |
StellarNet 反射透射光谱测试系统介绍：
反射与透射光谱是功能优异的光学测量技术，可用于表征薄膜、涂层、半导体材料及工程表面。通过分析光在样品表面的反射行为或是穿过样品的透射行为，科研人员与生产厂商能够在不接触、不损伤样品的前提下，评估薄膜厚度、光学参数、涂层性能以及材料各项特性。
StellarNet 薄膜计量检测系统集成高性能光谱仪、各类光学附件以及高级分析软件，可实现快速无损检测，适用于光学涂层表征、半导体工艺监控、光伏材料、显示技术以及前沿材料科学研究。
可对薄膜、滤光片、涂层、光纤、透镜以及几乎所有光学元件，测试百分透射率、光密度 (OD)、吸光度与反射率。
光学计量系统由微型光谱仪、光源以及计量附件（反射探头或透射夹具等）组成。系统支持 190‑2500nm 光谱测量波段。分辨率优于 1nm，具备科研级高稳定光学性能与测量重复性。配套 SpectraWiz 移动端应用，同时支持 SMART‑Control 全新操作交互界面。
光谱仪是检测滤光片、薄膜及光学元件光学性能常用设备。可快速对几乎任意光学元件完成百分透射率、光密度（OD）、吸光度、反射率测试，适用于研发实验、质量检测、生产管控，或是用于设备系统性能分析。
将 StellarNet 光纤光谱仪搭配反射探头与光纤光源，采集样品镜面反射产生的正弦干涉条纹，即可计算得到薄膜厚度。可根据薄膜检测或光学测试需求选用不同型号 StellarNet 光谱仪，仪器测量波段覆盖 190‑2300nm。可选配双通道架构、宽波段探测器或者高分辨率光学组件，满足各类光学测试场景。
光纤样品探头由 SL1 钨‑氪灯光源提供照明（其他光源选型见下文）。测试固体样品颜色时，可采用 IC2 积分球替代光纤反射探头，提升测量一致性。IC2 积分球同时可作为余弦接收器，优化辐照度测量结果。测试固体样品时，需要配备 RS50 白色反射标准件，建立测量参考基准。
StellarNet 反射透射光谱测试系统选择标准：
| 应用领域 | 优选测试技术 | 原理说明 |
|---|---|---|
| 半导体晶圆 | 反射率测试 | 硅基底不透明，反射模式适合氧化层、氮化层以及光刻胶的检测。 |
| 光刻胶 | 反射率测试 | 光刻工艺与制程管控中，可对硅晶圆实现快速非接触测量。 |
| 光学涂层 | 反射率 + 透射率测试 | 两项技术结合，表征涂层性能、膜厚与光谱响应特性。 |
| 光学滤光片 | 反射率 + 透射率测试 | 验证透射通带、截止抑制性能以及多层光学膜系设计。 |
| 增透（AR）涂层 | 反射率测试 | 检测光学元件表面低反射指标与涂层膜厚。 |
| 太阳能电池与光伏器件 | 反射率测试 | 评估增透涂层、透明导电膜（TCO）及光伏功能薄膜。 |
| 显示技术（OLED、LCD、Micro‑LED） | 反射率测试 | 表征显示涂层、ITO 导电层、OLED 功能层及光学薄膜。 |
| 透明玻璃与高分子薄膜 | 透射率测试 | 适用于高透明基底，通过透射光获取更多样品信息。 |
| 硅光子与光子集成芯片 (PIC) | 反射率测试 | 表征波导、介质薄膜以及多层光子器件结构。 |
| 激光光学元件与介质反射镜 | 反射率测试 | 检测高反膜、介质反射镜及各类激光光学元器件。 |
系统搭建示意图：
滤光片透射测量系统（200‑1700nm），配置 SL5 紫外‑可见氘卤灯光源、透射夹具、传输光纤、Y 型分光光纤、BLACK‑Comet + DWARF‑Star DUAL‑DSR 双通道光谱仪系统
镜面反射测量系统（280‑900nm），配置 SL1‑Filter 带滤光片卤钨灯光源、R600 反射探头、BLACK‑Comet 光谱仪
可见光滤光片透射测量系统（220‑1100nm），配置 SL1‑Filter 卤钨灯光源、透射夹具、F600 传输光纤
